パルス回路

会員540円 | 非会員648円
ダウンロード カートに入れる
ページ数9
閲覧数4,484
ダウンロード数11
履歴確認

    ファイル内検索

    資料紹介

    1 目的
     この実験では,微分回路や積分回路にパルスを入力し,それらの立ち下がり特性または立ち上がり特性を調べる.また,伝送回路のパルス応答を調べ,遅延時間を測定することにより,同軸ケーブルの長さを特定する.
    2 使用器具
     今回の実験で使用した実験器具を示す.
    パルス回路実験装置,MARUWA SOKKI,RM-632
    PULSE GENERATOR,HEWLETT PACKARD,8013B,1441A 11218
    OSCILLOSCOPE,National,VP-5514A,811278D 122
    3 実験方法
     各実験を行う前に,パルス発生器のFREQUENCYを10kHz,WIDTHを0.1msec,PULSE MODEをSINGLE,AMPLITUDEをMINIMUMにそれぞれ設定した.微分回路と積分回路の中で使用した容量の値は Fである.
    3.1 微分回路
     まず,パルス発生器のPULSE-OUT端子と,実験装置のINPUT端子を同軸ケーブルで接続した.次に,オシロスコープのCH.1をINPUT端子,CH.2をOUTPUT端子にそれぞれ接続し,オシロスコープ,パルス発生器の順に電源をONにした.その後,パルス電圧の振幅を1V,繰り返し周期を200μsec,パルス幅を50μsecに設定した.そして,微分回路の抵抗を1kΩ,10kΩ,51kΩに順次切り替えて,それぞれの場合の波形を観察しスケッチした.これらのうち10kΩの場合の波形をもとに,前半の立ち下がり特性を測定する.
    3.2 積分回路
     微分回路の場合と同様に,パルス電圧の入力波形と,積分回路の抵抗を1kΩ,10kΩ,51kΩにした各場合の出力波形をスケッチした.これらのうち10kΩの場合の波形をもとに,前半の立ち上がり特性を測定する.
    3.3 分布定数回路
     まず,パルス発生器の出力をINPUT端子に,外部トリガOUTをオシロスコープの外部トリガ入力にそれぞれ接続し,オシロスコープのCH.1をINPUT端子,CH2をOUTPUT端子に接続した.オシロスコープのトリガモードは外部トリガに設定した.

    資料の原本内容( この資料を購入すると、テキストデータがみえます。 )

    目的
     この実験では,微分回路や積分回路にパルスを入力し,それらの立ち下がり特性または立ち上がり特性を調べる.また,伝送回路のパルス応答を調べ,遅延時間を測定することにより,同軸ケーブルの長さを特定する.
    使用器具
     今回の実験で使用した実験器具を示す.
    パルス回路実験装置,MARUWA SOKKI,RM-632
    PULSE GENERATOR,HEWLETT PACKARD,8013B,1441A 11218
    OSCILLOSCOPE,National,VP-5514A,811278D 122
    実験方法
     各実験を行う前に,パルス発生器のFREQUENCYを10kHz,WIDTHを0.1msec,PULSE MODEをSINGLE,AMPLITUDEをMINIMUMにそれぞれ設定した.微分回路と積分回路の中で使用した容量の値は Fである.
    微分回路
     まず,パルス発生器のPULSE-OUT端子と,実験装置のINPUT端子を同軸ケーブルで接続した.次に,オシロスコープのCH.1をINPUT端子,CH.2をOUTPUT端子にそれぞれ接続し,オシロスコープ,パルス発生器の順に電源をONにし..

    コメント0件

    コメント追加

    コメントを書込むには会員登録するか、すでに会員の方はログインしてください。