半導体

会員540円 | 非会員648円
ダウンロード カートに入れる
ページ数6
閲覧数521
ダウンロード数0
履歴確認

    ファイル内検索

    タグ

    資料の原本内容( この資料を購入すると、テキストデータがみえます。 )

    目的
     実験を通して半導体には負の電荷を持つ担体(電子)と、正の電荷を持つ担体(正孔)が存在することをホール効果の実験によって確かめる。さらに、キャリアの密度が同一材料で何桁も異なり得ること、材料によってキャリアの移動度が大きく異なることを確かめる。
    実験方法
     測定試料用半導体として試料1(Si)、3(Si)、5(GaAs)、6(InGaAs)を用いた。まず、配線を行った後、以下の操作を備え付けのマニュアルを読んで行った。
    試料面が磁場の方向に垂直になるように試料をセットした。
    試料電流を100μAとなるように電源の電圧を上げて設定した。
    導電率測定にスイッチを切り替えて、その電圧を電圧計で読んだ。
    ホール効果測定の方にスイッチを切り替えた。
    磁場を加えて、磁場電流を7Aにした。
    ホール起電力を電圧計で読み取った。
    試料電流を切り替えスイッチで反転して、電流が一定かを確認した後、同様に電圧を読み取った。
    実験結果
     I=100μAで全ての実験を行った。
      試料1(Si)                    試料3(Si)
    =175mV =171.5mV =-168mV =770m..

    コメント0件

    コメント追加

    コメントを書込むには会員登録するか、すでに会員の方はログインしてください。